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  • 常見(jiàn)的EMC測(cè)試項(xiàng)目
  • 點(diǎn)擊次數(shù)：3032 更新時(shí)間：2009-10-22

  • 電磁干擾（EMI）測(cè)試

    電波暗室測(cè)試（Semi-Anchoic Chamber Test）
    傳導(dǎo)測(cè)試（EMI Conduction Test）
    干擾功率測(cè)試（Disturbance Power Test）
    電源諧波測(cè)試（Harmonics Test）
    電壓閃爍測(cè)試（Flicker Test）
    不連續(xù)干擾測(cè)試（Click Test）

     

    電磁耐受（EMS）測(cè)試

    耐靜電測(cè)試（ESD）
    耐射頻輻射測(cè)試（RS）
    耐脈沖雜訊測(cè)試（EFT）
    耐雷擊測(cè)試（Surge）
    耐射頻傳導(dǎo)測(cè)試（CS）
    耐電源頻率磁場(chǎng)測(cè)試（Magnetic Field）
    耐電壓變動(dòng)測(cè)試（Voltage Dips & Interruptions

李小姐
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